Fotoelektronu emisijas iznākuma spektroskopijas un skenējošās kelvina zondes pielietošanas nosacījumi organisko materiālu enerģijas līmeņu noteikšanai

Abstract

Darbā veikta organisko materiālu enerģijas līmeņu noteikšana ar fotoelektronu emisijas iznākuma spektroskopijas metodi. Metode ir pielietota tīru materiālu plāno kārtiņu jonizācijas enerģijas mērījumiem, elektrods- organiskā viela robežvirsmas un tās ietekmes uz enerģijas līmeņu vērtībām pētījumiem, kā arī organiskā viela- organiskā viela robežvirsmas pētījumos gan klasiskās slāņainās sistēmās, gan tilpumā sajauktu vielu gadījumā. Ir secināts par metodes priekšrocībām un trūkumiem, salīdzinot ar ultravioleto fotoelektronu spektroskopiju. Dažādiem materiāliem veikti virsmas potenciāla mērījumi ar skenējošo Kelvina zondi. Iegūtie rezultāti parāda virsmas potenciāla atkarību no elektroda izejas darba, kā arī parauga un pašas vielas īpašībām. Atslēgvārdi: organiskie materiāli, enerģijas līmeņi, robežvirsmas, fotoelektronu emisija, Kelvina zonde

In this work energy level study of organic materials using photoelectron yield spectroscopy was done. Method was used for energy level measurements of pure materials thin films, in the studies of electrode- organic material interface and its influence on energy level values, and in the studies of organic material- organic material interface in planar and bulk heterojunction systems. Conclusions about advantages and disadvantages of the method are discussed, comparing it to the ultraviolet photoelectron spectroscopy. Surface potential measurements for various materials were done using scanning Kelvin probe. The obtained results show surface potential dependence on electrode work function, as well as the properties of the sample and material itself. Keywords: organic materials, energy levels, interfaces, photoelectron emission, Kelvin probe